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  • ？Q

    源表-为什么两台不同源表测同一颗料的暗电流差异大？

    A

    这通常是由于量程选择不当引起的。
    原因分析：暗电流的数值通常极小，若量程过大，会导致测量分辨率不足，从而产生较大误差。

      100 μA 量程
    解决方案：在测量暗电流时，需手动选用匹配的微小电流档位（例如将电流量程固定选取在 1 μA 档位）。修改并固定合适的量程后，即可获得精确且一致的测量结果。

    1 μA 量程


  • ？Q

    误码仪测试，为什么GUI显示误码65535及以上数字

    A

    误码偏大，误码测试溢出，注意设备接地。

  • ？Q

    误码测试仪表按照流程编写ATE，为什么会概率出现测试过程中眼图测试中断情况

    A

    确认灵敏度测试是否和眼图测试同步进行，在灵敏度测试过程中判断失锁情况下会执行RELOCK指令，此操作会重新初始化TX端，若此时正在进行眼图测试，则会出现测试中断。


  • ？Q

    为什么误码测试仪表自动化误码测试总是读取大误码

    A

    大概率是测试流程问题，配置结束，开始误码测试之前需要先判断模块锁定状态


  • ？Q

    为什么误码测试仪表换了个台位眼图测试会劣化？

    A

    确认测试环境没问题的情况下，需要根据环境和产品调节预加重，如下图调节3Tap


  • ？Q

    使用误码测试仪表自带trig，测试眼图更换误码测试仪表通道后，trig无法锁住，眼图测试失败。

    A
    误码仪电自环确认误码仪信号是否正常，若使用误码仪trig，确认trig选择对应通道是否正确

  • ？Q

    误码测试仪表极性相反会通吗？

    A
    MBT5210误码仪:极性相反不通，单端通，灵敏度稍差
    PAM4误码仪：NRZ模式极性相反通  PAM4模式极性相反不通

  • ？Q

    误码测试仪表纠后还存在误码，是什么原理？ 一般是什么原因导致？

    A


    从分布上看通道存在突发误码, 所以纠后误码>0, 因为symbol err分布超过了FEC的理论纠错能力(<15).  E-9的误码率是平均误码率, 零星的突发误码隐藏在里面并不容易看到.

    FEC纠错能力解析：下图是上述两种情况的极端场景. 两个图的误码分布都能满足FEC纠后误码为0.  但是上图再多1列, 下图再多一个bit, 就都会出现FEC无法纠回的状态.


    产生零星大误码的原因：通道串扰, 链路损耗, DFE均衡处理, 都有可能出现突发误码。在某一个时间, 某一些数据包上, 存在一些超出纠错算法能力的突发误码, 它可以是一瞬间大面积连续分布在一个数据包里, 也可能是随机出现在每一个符号里, 但出现的次数足够多. 这些都会导致在这个瞬间, 出现无法纠回的数据包.

  • ？Q

    误码测试仪表MSBLSB的含义是什么？和TX±有什么关系？

    A
    高位比特MSB，低位比特LSB，MSB/LSB对应的是数字比特编码
    TX±指的是差分信号的正极和负极，对应的是模拟电平

    每一个PAM4符号（2bits）,数字编码转化为模拟电平的方法是MSB+LSB/2，实现四种电平的输出变化

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